2024年4月11日发(作者：电脑开机很慢)
Maxim
模拟产品可靠性报告
1
刖
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本报告介绍了
Maxim
模拟产品的可靠性数据。这些数据是从
1999
〜
2000
年实施的 可
靠性应力试验中获取的。
Maxim
公司采用了如下
9
种工艺：
——标准金属栅
CMOS (SMG)；
—
—中等电压金属栅
CMOS (MV1)；
—
—中等电压硅栅
CMOS (MV2)；
— —3 11m
硅栅
CMOS (SG3)
；
— —5 u m
硅栅
CMOS (SG5)
；
— —L2um
硅栅
CMOS (SG1.2)；
— —0. 8 u m
硅栅
CMOS (S8)；
——0. 6
口
m
硅栅
CMOS (S6)；
——双极
(BIP)
工艺。
在这一时期中受高温应力
(135℃)
的产品积累了
14X106
器件小时。本报告中的 数据是
Maxim
模拟产品的典型值，论证了
Maxim
产品的恒定高可靠性。
2
可靠性方法
Maxim
公司的可靠性试验的质量解决方法是保守的。
7
个工艺中，每个工艺
都已经 用以下工业标准来鉴定：寿命试验、
85 / 85
、
压力锅、
HAST
、高温贮存试验和
温度 循环(表
1)
。每种工艺都已经接受鉴定并证明能生产出高质量产品。
表
1 Maxim
公司的可靠性试验
试验名称 条件
寿命试验
135℃,
偏压，
1000h
抽样计划
Acc/SS
1/77
1/77
0/45
0/77
1/77
85/85
HAST
压力锅
85℃
、
85%RH
、偏压，
1000h
130℃> 85%RH
、偏压，
100h
121℃> 100%RH> 2atm
、无偏压、
168h
温度循环
-65
〜
150℃
、空气-空气、无偏压、
1000
次循环
高温贮存
150℃>
无偏压、
lOOOh
1/77
Maxim
公司的
SMG
、
MVK MV2
、
SG3
、
SG5
、
SGL 2
、
S6
、
S8
和双极工艺完全符 合
或超过半导体工业界的性能与可靠性期望值。
Maxim
公司各种工艺产品的长期寿 命试验
结果于表
2
显示。
表
2 Maxim
公司各种工艺产品的寿命试验结果
工艺 样品数 剔除数
非特
@25℃
非特
@55℃
SMG
MV1
MV2
SG3
SG5
SG1.2
S8
S6
BIP
总计
1475
462
721
3669
859
4313
714
237
1765
14215
1
1
2
2
0
2
0
0
2
10
0.31
0. 99
0. 98
0. 19
0. 24
0. 16
0. 29
0. 87
0.4
0. 18
5. 37
17. 1
16.8
3.31
4. 18
2.82
5.02
15. 1
6. 89
3. 17
3
可靠性规划
3.1
可靠性规划步骤
Maxim
公司已实施了一系列旨在制造工业界中最高质量和最可靠产品的质量与可靠 性规
划。所有产品、工艺和制造中的变化都必须在大量生产之前经受可靠性试验。 其可靠性
规划包括以下
3
个步骤：
a.
第
1
步：初始可靠性鉴定计划
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