MEMS振镜扫描共聚焦图像畸变机理分析及校正

MEMS振镜扫描共聚焦图像畸变机理分析及校正


2024年4月2日发(作者:红米k40游戏增强版参数)

50

卷第

2

红外与激光工程

Infrared

and

Laser

Engineering

2021

2

Feb.

2021

Vol.50

No.2

MEMS

振镜扫描共聚焦图像畸变机理分析及校正

新叫李航锋

1,

张运海心

王发民込施

辛彳

(1.

中国科学技术大学

安徽合肥

230026

2.

中国科学院苏州生物医学工程技术研究所江苏省医用光学重点实验室

江苏苏州

215163;

3.

苏州大学附属第二医院,

江苏苏州

215000)

摘要

在皮肤反射式共聚焦显微成像过程中

针对

MEMS

振镜二维扫描引起的共聚焦图像畸变

展了光束偏转理论分析

得出了投影面扫描图像的具体形状表征

,

理论畸变图像与真实畸变图像一致

明确了畸变机理

提出一种有效的畸变校正算法

实现对图像二维畸变的校正

首先记录原始光栅畸

变图像

然后基于

Hessian

矩阵提取光栅中心线

拾取特征点并设置基准参考线

通过基于最小二乘法

7

次多项式插值法标定二维方向像素畸变校正量

采用加权平均法填补间隙像素灰度值,最终实现

图像畸变校正

。利用网格畸变测试靶实验得出

7

次多项式插值后的校正决定系数最高

均方根误差值

最低

整幅

512

行图像在

7

次多项式插值后最优行数占

379

比例为

74%,

通过残差分析

二维方向

上残差最大为

4

个像素

最小为

0

个像素

平均为

1.15

个像素

校正结果较为精确

皮肤在体实时成

像实验显示

图像畸变校正后组织结构特征更加真实准确

表明这种校正算法有效可行

有助于皮肤疾

病的准确诊断

关键词

图像二维畸变

机理分析

Hessian

矩阵

光栅

多项式插值

中图分类号

TH742.9

文献标志码

A

DOI

10.3788/IRLA20200206

Analysis

and

correction

of

image

distortion

in

MEMS

galvanometer

scanning

confocal

system

Miao

Xin

12

,

Li

Hangfeng1

,

Zhang

Yunhai

1,2

*,

Wang

Famin

1,2

,

Shi

Xin

3

(1.

University

of

Science

and

Technology

of

China,

Hefei

230026,

China;

2.

Jiangsu

Key

Laboratory

of

Medical

Optics,

Suzhou

Institute

of

Biomedical

Engineering

and

Technology,

Chinese

Academy

of

Sciences,

Suzhou

215163,

China;

3.

The

Second

Affiliated

Hospital

of

Soochow

University,

Suzhou

215000,

China)

Abstract:

Aiming

at

the

distorted

confocal

images

caused

by

the

two-dimensional

scanning

of

MEMS

galvanometer

during

skin

imaging

by

reflectance

confocal

microscopy,

the

theoretical

analysis

of

beam

deflection

was

carried

out,

and

the

specific

shape

representation

of

projection

plane

scanning

image

was

obtained.

It

was

concluded

that

the

theoretical

distortion

image

was

consistent

with

the

real

distortion

image.

The

distortion

mechanism

was

clarified

and

a

distortion

correction

method

was

proposed.

First,

the

original

distorted

grating

image

was

recorded,

then

the

center

lines

of

grating

were

obtained

based

on

the

Hessian

matrix,

after

that

feature

points

were

picked

and

datum

reference

lines

were

set.

Finally,

the

correction

to

the

distorted

confocal

images

was

realized

by

calibrating

the

corrections

of

the

two-dimensional

pixel

distortions

using

polynomial

interpolation

收稿日期

2020-10-12

修订日期

:2020-11-15

基金项目:国家重点研发计划

(20

17YFC0

110305)

山东省自然科学基金

(ZR2019BF012)

济南市

高校

20

资助项目

(2018GXRC018)

苏州市民生科技项目

(SS201643)

20200206-1

红外与激光工程

2

50

based

on

the

least

square

method

and

filling

the

gray

value

of

gap

pixels

by

weighted

average

method.

By

the

experiment

of

measuring

target

with

grid

distortion,

the

correction

coefficient

was

the

highest

and

the

root

mean

square

error

was

the

lowest

after

polynomial

interpolation

of

degree

7.

Also,

the

optimal

number

of

512

rows

was

379,

accounting

for

74%.

The

residual

distortions

were

accurately

evaluated,

in

two

dimensional,

the

maximum

value

is

4

pixels,

the

minimum

value

was

0

pixel

and

the

average

value

was

L15

pixels,

so

the

results

were

accurate.

The

experiment

of

in

vivo

real-time

skin

imaging

shows

that

the

organizational

structure

features

are

more

real

and

accurate

after

corrections.

So

this

method

is

effective

and

feasible,

which

is

helpful

for

accurate

diagnosis

of

skin

diseases.

Key

words:

two-dimensional

distortions

of

images;

mechanism

analysis;

Hessian

matrix;

grating;

polynomial

interpolation

0

引言

量庞大

必须获取一定数量的采样点才能得到较为准

作为一款新型影像学临床诊断设备

皮肤反射式

确的畸变校正参数

而且校正后的图像呈现严重拉

共聚焦显振镜利用皮肤中血红蛋白

黑色素和角蛋白

直接影像图像质量;

经纬度以及双经度模型是以

等不同组织成分的折射率差异进行成像

为皮肤组织

引入极点的方式来实现图像映射关系

但是在极点周

的实时观测提供有效的技术手段

在恶性皮肤肿瘤早

围依然存在图像拉伸现象

柱面模型则是设置引导方

期诊断

治疗后随访等方面发挥了愈发重要的作用"役

将图像沿着柱面导向展开

,这种方式有效避免了

为进一步实现皮肤病检查时的便捷性,需要发展手持

图像拉伸

但会损失中心画面

。而基于标定算法的校

式皮肤共聚焦显振镜

由于受到系统体积和重量限

正方式最先由

Tsai

如提出

首先需要求解初始化参

系统中的核心部件扫描振镜要采用单镜面式

,然后经过非线性优化来实现系统标定参数,

并确

MEMS

振镜实现二维扫描成像,该扫描方式使得采集

定畸变系数

张正友标定法创首先通过建立畸变数学

到的图像存在较为严重的二维畸变

扭曲了皮肤组织

模型

再利用多幅不同位姿的标定板图像完成畸变参

真实的结构形态.如不对这种图像畸变进行校正

数标定

该算法需要明确畸变种类

人工智能算法校

不利于医生观察皮损组织真实形态

边界轮廓

结构

正方法

S

创主要包括机器视觉

深度学习

BP

神经

特征等信息

直接影响临床诊断结果因此

需要

网络等

这些方法均需要较大的采样数据量

系统模

在分析产生图像畸变机理的基础之上

实现畸变校

型的准确构建直接影响校正结果

将真实图像信息准确呈现

为皮肤疾病诊断奠定

文中分析了单镜面型

MEMS

振镜二维扫描畸变

基础

机理,通过记录原始光栅畸变图像

基于

Hessian

矩阵

目前,针对共聚焦图像畸变的机理分析均基于两

提取光栅中心线

二维方向分别拾取特征点并设置参

振镜配合的扫描方式厂®,如双检流计振镜

共振振

考线

采用基于最小二乘法的

7

次多项式插值拟合方

镜-检流计振镜及双共振振镜

上述系统形成的主要

法进行二维方向像素畸变校正量标定

最终实现图像

图像扫描畸变为双曲线枕形畸变

只需校正一维

二维畸变校正

通过残差分析评估证明该方法有效可

方向畸变

通过推导图像各像素实际位置、

振镜

能够满足皮肤在体实时成像检测需求

实际偏转角以及控制电压三者关系

这种方式计算量

实现难度较高

静态扫描控制方式一定程度上影

1

振镜扫描畸变机理

响成像速度

而针对其他图像畸变的各类校正方法

基于

MEMS

扫描振镜的共聚焦成像系统如图

I

及算法主要有建立投影变换模型校正

基于标定

所示

激光束经过

PBS

棱镜.反射至

MEMS

扫描振

算法校正

WT21

以及人工智能算法校正等

基于投影

其镜面在一定光学摆角内进行高速二维扫描

变换模型校正方法主要适用于鱼眼相机

包括采用球

后光束经扫描透镜和筒镜进行扩束

经过

M4

波片调

面透视投影模型心叫经纬度模型河坷

双经度模

制偏振态

最后由物镜聚焦于待测样本面

样本反射

E

以及柱面模型

1

9

球面透视投影的方法运算

光束由原路返回

分别经过物镜

4

波片

筒镜

20200206-2

红外与激光工程

2

50

描透镜

MEMS

振镜后到达

PBS

棱镜,经针孔透镜聚

焦于光纤端面

由探测器将光信号转换为电信号

后上位机重建出图像

1.1

MEMS

振镜工作机理

MEMS

振镜工作机理如图

2

所示,一束激光入射

MEMS

振镜镜面中心

反射至投影面从而形

成一个扫描光点

单镜面型

MEMS

振镜由上位机通

过串口发送指令给下位机主控板

同时实现

X

1

基于

MEMS

扫描振镜的反射式共聚焦成像系统

维方向驱动控制

,镜面在

x

方向为正弦波

y

方向为

Fig

Reflectance

confocal

microscope

based

on

MEMS

锯齿波运动模式,最终在投影面形成二维扫描图像

Fig.2

Working

mechanism

of

MEMS

1.2

扫描畸变分析

首先

镜面绕快轴偏转运动

,在系统投影面处

标系

将入射光向量沿

X

zo

方向分解

如图

3(a)

则入射光在

X

q

P

q

Z

o

坐标系下的单位向量为

(sina,

建立

DZ

坐标系(与图

2

中号

z

坐标系一致)

设镜面由

O,coso),

经镜面反射后的反射光也沿

X

Zo

方向分

如图

3(b)

所示

则反射光在乂哄函坐标系下的单

原始位置

1

绕快轴转动

a

到达位置

2,

则反射光偏转

角为

2a,

以镜面在位置

2

处的法线方向

垂直法

线方向以及平行护坐标系中

y

轴方向建立

X

q

P

o

Z

o

位向量为

(sina,

0,

-cosar)

3

MEMS

振镜绕快轴偏转运动示意图

Fig.3

Working

around

fast

axis

of

MEMS

镜面绕慢轴偏转运动示意图如图

4

所示

其视图

不变

因此其在

X

方向上的单位向量仍为

sina,

将经

方向为图

3

中的/向

镜面由原始位置

1

绕慢轴转动

MEMS

振镜二维偏转后的反射光在乂収忆

坐标

0

到达位置

2,

则反射光偏转角为

20

反射光沿

X

向的分向量在振镜绕慢轴偏转运动过程中保持

系下分解

首先将反射光单位向量向旳

0z°

平面投

得出向量

1

的模为

sina,

向量

2

的模为

cosa,

20200206-3

红外与激光工程

2

50

将向量

2

x°Ozo

平面投影

得出向量

3

的模为

z

=

0,

可得出

y

2

=

7

------

兀+(

])厶

cosa

sin20,

向量

4

的模为

cosa

cos20,

考虑向量方向

后得出反射光在

XoXoZo

坐标系下的单位向量可表示为

tana

tarro

/

由于实际情况下

MEMS

振镜镜面与入射光原始

(sina,

cose

sin20,

-cosa

cos20)

0

夹角为

45

因此心

=

45°,

00

=

0°,

绕快轴的机械偏转

角约为土

7

,即

a

e

[38°,52°],

绕慢轴的机械偏转角约为

±5°,

即奘

[-5

。,

5

]

A(a)

=

,

tana

=

taira

/

2,

则公式⑶

可化简为

y

2

^Ax+B,

图形为二次抛物线

由二次函数

特性可知

A

>

0

时,抛物线开口向右

A

<

0

时,抛

物线开口向左

HI

越大

抛物线开口越大

B>0

时,

4

MEMS

振镜绕慢轴偏转运动示意图

抛物线与

x

轴交点在

y

轴左侧

B

<

0

抛物线与

x

Fig.4

Working

around

slow

axis

of

MEMS

交点在

y

轴右侧

B

=

0

时,抛物线与

x

轴交点为原点

在砂坐标系下

将反射光在

X^

q

Z

q

坐标系下

的单位向量进行二次分解

X^o

坐标系下兀

o

方向

tana

厶始终为正值

因此

,A(a)>0,

tana

随着自变量

a

变大

而变大

因此

,A(a)

随着自变量

a

变大而减小

即随着

函数

4(a)

=

在定义域

a

e

[38

。,

52

]

内,

tana

>0,

2L

的单位向量

sinQ

xyz

坐标系下分解为

(sin

2

a,0,

-sina

cosg

),

旳方向的单位向量

cosa

sin20

分解为

(O,cosa

sin20,O),

方向的单位向量-

cosa

cos20

解为

(cos%

cos20,

0,

sincz

coscr

cos20)

因此

将二次

2Z

a

变大

抛物线开口逐渐变小

函数

A(a)

=

二在定

tana

义域

a

€[38

。,

52

tana

>0,

Z

始终为正值

因此,

A(a)>0,

tana

随着自变量

a

变大而变大

因此

A

(a)

着自变量

a

变大而减小

即随着

a

变大,抛物线开口逐

渐变小

y=

.

-

L

o

可知

MEMS

振镜镜面绕

分解后的向量在桦坐标系下重新沿各轴累加

得岁反射光在瞎坐标系下的单位向量如下

(sin%

+

cos

2

a

cos2^,

cosa

sin20,

-sina

cosa

+

sina

cosa

cos20

)

反射光在砂坐标系下的直线方程式可表示为

sina

-tanp

慢轴的偏转角达到最大时

即仔

=±5

随着

a

变大,

x

=

k-

(sin

2

a

+

cos%

cos%)

y

=

k-

cosa

sin2/?

z

=

L

+

k・

(—

sina

cosa

+

sina

cosa

cos20)

|y|

的值逐渐变小

即面上二维图像的高度逐渐

(I

)

变小

综上

投影面

xoy

上的理论扫描图像示意图如

5(a)

所示,

真实扫描图像如图

5(b)

所示

两者形状

式中泌为系数;厶为镜面至投影面

XOY

的距离。

为了

求解出投影面

XOY

上的二维图像

令公式⑴中

V

基本一致

(b)

5

理论扫描图像及实际扫描图像

Fig.5

Theoretical

and

actual

scanning

image

20200206-4

红外与激光工程

2

50

2

图像畸变校正方法

2.1

光栅中心线提取

采用间距为

20

gm

的光栅进行二维扫描成像

录原始畸变光栅图像

如图

6

所示

G

(P

)是

f(X,

)

P

a

(x°,yo)

点处的

Hessian

矩阵

,

可简化为

H

(x,y)

=

(7)

式中

:亠为

x

的二阶偏导数

其他参数类似

Hessian

矩阵有两个特征值心

A

2

,

对应的特征

向量为匕

%

如果

1

闷,则儿

%

代表

P(x,y)

点处

灰度值变化最大曲率及方向.而久

2

匕表示变化最小

曲率及方向

如图

7

所示

Normal

direction

of

light

bar

Axis

direction

of

light

bar

—Other

directions

of

light

bar

6

畸变光栅图像

P(x,y)

Fig.6

Distorted

grating

image

由于光栅条纹具有一定的像素宽度

为了精确获

取图像像素位移量

需要准确提取光栅条纹中心线

°

Pixel

如果用函

f(X,y)

来表示光栅灰度图像

则在

Po(x

o

,y

o

)

点处的泰勒展开式可表示为

7

Hessian

矩阵的特征值和特征向量表征示意图

Fig.

7

Eigenvalues

and

eigenvectors

of

Hessian

matrix

f(X,y

)

=/(xo,yo)+

Po

7

P(x,y)

点为光条的精确中心点

基于上述

方法

实现整段光条精确中心点群的提取

形成条状

1

2

97

dX

2

ro

p

次+

2

dXdy

H

a

%

9

曲线段

对图

6

畸变光栅图像中心线条纹提取.提取

前后对比示意图如下图

8

所示

式中

AX

=

X-

jc

0

AK

=

y~y

0

o

其矩阵表达式为

/(X,Y)=/(P

()

)

+

P()

X

Ar

+

*(AX,A

)

97

ax

2

97

QYdX

a

2

/

dXdY

d

2

.f

AX

Ar

Po

+

•••

(a)

(b)

ar

2

8

畸变光栅图像

(a)

及中心线提取后图像

(b)

Fig.8

Distorted

grating

image

(a)

and

center

lines

image

(b)

即:

/(X,

K)

=

f(P")+

v

/

(

p

0

)

t

aw

+

1

a

//

t

g

(

p

0

)

ah

+

2.2

特征处理及分析

畸变光栅图像实现中心线条纹有效提取后

施加

多条等间隔水平参考线

参考线与纵向光栅中心线交

(5)

其中,

点为特征点

如图

9

所示

07

ax

2

G(P°)

a

2

/

dXdY

为了实现畸变光栅图像水平方向的位移校正

/

7

=

0

a

2

/

dYdX

97

dY

2

AX

Ay

设置纵向参考线,对每一条中心线条纹上的特征点横

坐标进行算术平均

从而获取纵向参考线横坐标数

如图

10

所示

20200206-5

红外与激光工程

2

50

通过上述公式计算得出的"组数据

x,,AS,

,

由于

图像中各像素点在水平方向均存在畸变

因此采用基

于最小二乘法的"次多项式插值方法

对已知数据展

开拟合

能够获取每个像素点对应的水平方向位移

通过比较不同次数多项式插值拟合结果的拟合

拟合误差以及运算效率

筛选岀校正决定系数

(用于评价拟合近似程度

较高

均方根误差值较低,

且运算效率较高的最优次数的多项式插值方法

得到

水平方向像素畸变校正矩阵

纵向畸变校正方法与横向畸变校正方法类似

水平方向畸变校正之后

基于

Hessian

矩阵对横向畸

变光栅图像提取光栅中心线

拾取特征点并设置横向

参考线

再次采用基于最小二乘法的"次多项式插值

方法

对已知数据进行拟合

得出每个像素点的竖直

方向位移量

筛选出最优次数的多项式插值方法

到竖直方向像素畸变校正矩阵

最终实现图像二维畸

变校正

在图像二维畸变校正过程中

原图相邻像素若畸

变校正量不同会产生间隙像素

灰度值为

0,

破坏图像

清晰度和完整性

如图

12

所示

10

中心线及纵向参考线

Fig

0

Center

lines

and

reference

lines

2.3

像素位移校正

在整幅光栅图像中

每条纵向光栅条纹都有对应

的纵向参考线

对图像任一行而言

光栅条纹中心线

上特征点与对应的纵向参考线之间都存在像素水平

12

畸变校正后间隙像素示意图

Fig.12

Gap

pixels

after

distortion

corrections

因此

可采用加权平均法填补间隙像素灰度值,

最大程度还原图像信息

设原相邻两像素分别为

位移量

AS,,

如图

11

所示

和像素灰度值分别为

R,

和中间形成了

〃个间隙像素

分别为像素则间隙像素

M

的灰度值为

3

实验

3.1

像素畸变校正量的标定

为验证上述图像畸变校正方法的可行性及有效

对畸变光栅图像

6

进行图像畸变校正。

采用

基于最小二乘法的多项式插值法,

实现像素水平位移

11

像素水平位移校正量示意图

量的插值拟合

随机采样图像某一行数据

例如

:第

Fig.l

1

Horizontal

displacement

correction

300

行)

分别采用

5

次多项式

6

次多项式

7

次多项

20200206-6

红外与激光工程

2

50

式以及

8

次多项式进行插值拟合

插值结果如图

13

所示

计算如下

p(x)

=

2.1c

-13

%

5

-5.2e

_,0

x

4

+4.6^

7%

3

1

.Se^x

2

+

2.5e~

2

x

+

4.0

p

(x)

=

-9.1e-

,6

x

6

+

2.9e

2

3.6

e

-

9

x

4

+

-^x2

+

6.3e~

2

x

+

3.3

p(x)

=

1.9e

_18

x

7

7.4e

_15

x

6

+

-11

%

5

-

9.7e~

9

x

4

+

4.36

-6

^

-

9.7e~

4

x

2

+

9.2e

_2

x

+

2.8

.

p(x)

=

-2.3e

_21

x

8

+

1

.

1

e~

17

x

7

-

2.2e

_14

x

6

+

2.56

-11

^

5

1.6e

_8

x

4

+

5.9e

_6

x

3

lZe^x

2

+

0.1x

+

2.6

Abscissa

of

original

pixel

(a)

Curve

fitted

by

quintic

polynomial

Abscissa

of

original

pixel

(b)

Curve

fitted

by

polynomial

of degree

six

Abscissa

of

original

pixel

(c)

Curve

fitted

by

polynomial

of

degree

seven

(d)

Curve

fitted

by

polynomial

of

degree

eight

13

像素水平位移量多项式拟合曲线

Fig.

13

Polynomial

fitting

curve

of

pixel

horizontal

displacement

通过上述计算结果及拟合曲线分析可知

5

Number

of

lines

379

6

7

次以及

8

次多项式插值拟合校正决定系数分

别为

0.8737

0.9046

0.907

8

以及

0.9003

均方根误

差分别为

0.5209

0.4525,

0.4449

以及

0.4626;

通过

77

n

统计发现上述多项式插值运算时长基本相同

因此,

42

7

次项插值拟合校正决定系数最高

且均方根误差

最小

,为了进一步验证该结果有效性

对整幅图像

0

5

6

7

__

.

8

Fitting

times

14

多次项插值拟合最优情况统计

512

行分别进行

5

6

7

次以及

8

次多项式插值

拟合

统计各次数多项式插值拟合为最优时占据的行

如图

14

所示

7

次项最优占

379

比例为

74%,

Fig.

14

Statistics

of

multiple

interpolation

fitting

明显优于其他次数插值拟合

因此

认为

7

次项插值

拟合最优

竖直方向也采用

7

次项插值拟合的方法进行畸

变校正

最终二维畸变校正后光栅图像及中心线提取

15

二维畸变校正后光栅图像

(a)

及中心线提取后图像

(b)

后图像如图

15

所示

Fig

5

Grating

image

after

2-D

corrections

(a)

and

center

lines

(b)

20200206-7

红外与激光工程

2

50

3.2

残差分析

的准确扫描角度

a

0,

而扫描角度与控制电压呈固定

为了更精确评价畸变校正结果准确性

采用

50

关系

因此能够得出各像素点与控制电压的一一映射

间距的网格畸变测试靶进行二维扫描成像,

记录原始

关系

理论上

MEMS

振镜只需读取准确的控制电压

畸变图像

如图

16(a)

所示

通过上述方法实现二维畸

矩阵即可生成完全无畸变图像

但在实验时发现该

变校正

将校正后图像与标准网格畸变测试靶图像

方法计算量庞大,且这种外部数据读取的方式直接影

进行对比

分析校正后二维方向的残差

并统计出最

MEMS

振镜扫描速度

从而影响系统成像速度

最小以及平均残差

图像局部放大后的残差分析

法满足在体实时成像要求

示意图如图

16

⑹所示

而文中畸变校正方法具有一定的普适性和通用

不受畸变模型限制

虽然多次项插值拟合方式的

校正精度与之相比略低,但已基本不影响图像的观察

和分析

且该方法不会影响系统成像速度

完全满足

使用要求

(a)

(b)

5

结论

16

网格测试靶畸变图像

(a);

畸变校正后网格图像

(b)

Fig

6

Distorted

image

of

grid

test

target

(a);

Grid

image

after

distortion

文中针对单镜面型

MEMS

振镜开展了二维扫描

correction

(b)

畸变机理分析

提出一种有效的的二维畸变校正算

畸变矫正后的网格畸变测试靶与标准网格畸变

实现图像畸变准确校正

首先记录原始光栅畸变

测试靶二维方向上残差最大为

4

个像素

,最小为

0

图像,

然后基于

Hessian

矩阵提取光栅中心线

拾取特

像素,平均为

1.15

个像素

由于像素数实际为整数

征点并设置基准参考线

通过基于最小二乘法的

7

此,近似认为平均残差约

1

个像素

多项式插值法标定二维方向像素畸变校正量,最终实

3.3

皮肤实验

现图像畸变校正

利用网格畸变测试靶进行残差分

在当前存在畸变的系统中开展在体皮肤共聚焦

二维方向上残差最大为

4

个像素

最小为

0

个像

成像实验,记录皮肤组织结构特征较为明显的棘层图

平均为

1.15

个像素

校正结果较为精确

皮肤在

校正前后对比如图

17

所示

能够明显看出

皮肤

体实时成像实验显示

图像畸变校正后组织结构特征

棘层细胞结构形态由原先的斜拉伸状变为较为均匀

更加真实准确

表明这种校正算法有效可行

,有助于

的蜂窝状

能够清晰辨识正常组织特征

有利于皮肤

皮肤疾病的准确诊断

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,辅助医生检测和诊断

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dermoscopy

onb

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第一作者简介:

缪新

(1989-),

助理研究员

硕士

2012

年于南京航空航天大学获得学士学

位,

2015

年于南京航空航天大学获得硕士学位

现于中国科学院苏州生物医学工程技术研究

所在职攻博

主要从事在体显微光学及激光共聚焦显微成像方面的研究

Email

**************.cn

通讯作者简介

张运海

(1975-),

教授

研究员

博士生导师

1998

年于南京航空航天大学

获得学士学位

,

2006

年于南京航空航天大学获得博士学位

现于中国科学院苏州生物医学工

程技术研究所工作

现为江苏省医用光学重点实验室副主任

主要从事激光扫描共聚焦成

像,超分辨显微光学方面的研究工作

2018

年被评为江苏省

333

工程培养对象,

2012

年获得

江苏省六大人才高峰资助项目

,

2010

年被评为江苏省有突出贡献中青年专家,

2006

年被认定

为苏州市紧缺高层次人才-

Email

****************.cn

20200206-10


发布者:admin,转转请注明出处:http://www.yc00.com/num/1712064734a1999337.html

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